三重県のSEMの求人・仕事・採用

仕事内容【応募資格】 [必須] ～業界未経験歓迎／SEM・TEM経験を活かしたい方 歓迎！～ 【必須条件】下記いずれかを用いた物理解析経験 ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■透過型電子顕微鏡（TEM） ■集束イオンビーム（FIB） 【職種名】 【三重】電子顕微鏡分析技術者（半導体デバイスのSEM・TEM・FIB解析） 【仕事内容】 【仕事内容】 半導体、液晶、金属、新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提供している同社において、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）、集束イオンビーム（FIB）を用いた半導体デバイスの解析を担当していただきます。

仕事内容◎半導体製品の表面観察を行うプロジェクトになります。 【業務例】ＳＥＭ観察／解析／評価 【ツール】ＳＥＭ／各種測定装置 ■業務内容 材料や製品の表面状態をＳＥＭで詳細する業務となります。 品質向上に向けた表面観察と評価業務をお任せします。 ■業務詳細（一例） ・ＳＥＭを用いた表面観察 ・測定データの整理と報告 ※変更範囲：会社の定める業務

仕事内容東芝ナノアナリシス株式会社 【四日市】半導体デバイス解析（SEM・TEM・FIB）◆半導体分析メイン／高度解析に挑戦 【仕事内容】 【四日市】半導体デバイス解析（SEM・TEM・FIB）◆半導体分析メイン／高度解析に挑戦 【具体的な仕事内容】 ～SEMやTEMの知見を活かしたい方 歓迎！年休162日（交代勤務）／キオクシアの新製品開発の分析に携われる／国内唯一の3次元アトムプローブ分析など高度な分析技術を保有／大学との共同研究あり～ ■業務概要 半導体、液晶、金属、新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提供している同社において、SEM・TEM・FIBを用い

仕事内容株式会社日東分析センター 【三重／亀山】電子顕微鏡分析（SEM／形態観察）◇日東電工G│受託分析×開発支援│年休125日 【仕事内容】 【三重／亀山】電子顕微鏡分析（SEM／形態観察）◇日東電工G│受託分析×開発支援│年休125日 【具体的な仕事内容】 【プライム上場日東電工の子会社/年間休日125日/大手総合エレクトロニクスメーカー等と取引多数】 ＜求人のポイント＞ ◎ 日東電工グループ／分析専門トップクラス企業 ◎ SEM・FIB・FT-IRなど最先端機器を使用 ◎ 分析＋提案まで担う“上流ポジション” ◎ 年休125日・リモート可で働きやすい環境 ■仕事内容 受託分析業務として

仕事内容亀山事業所にて受託分析業務全般（受付・前処理・測定・速報・報告書作成）をお任せします。製品の研究・開発段階での分析・故障解析、分析評価法の開発等、機器分析業務をお任せします。 【具体的には】 電子顕微鏡（FE-SEM/FIB-SEM）を用いた形態観察およびそれに関わる前処理 ・画像解析 ・組成分析（FT-IR）を用いた有機物の構造解析 ・クライアントとの評価結果ディスカッションを通じ新たな分析方法の提案 ・将来的には顧客のR＆D部門に入り込み、分析の専門家として開発への関与 など ＜組織について＞ 配属部署にはグループ長40代、50代男性1名・女性2名、40代男性2名、30代男性2名、20

仕事内容【仕事内容】 亀山事業所にて受託分析業務全般（受付・前処理・測定・速報・報告書作成）をお任せします。製品の研究・開発段階での分析・故障解析、分析評価法の開発等、機器分析業務をお任せします。 【具体的には】 電子顕微鏡（FE-SEM/FIB-SEM）を用いた形態観察およびそれに関わる前処理 ・画像解析 ・組成分析（FT-IR）を用いた有機物の構造解析 ・クライアントとの評価結果ディスカッションを通じ新たな分析方法の提案 ・将来的には顧客のR＆D部門に入り込み、分析の専門家として開発への関与 など ＜組織について＞ 配属部署にはグループ長40代、50代男性1名・女性2名、40代男性2名、30代

仕事内容＜半導体SEM・TEM解析業務＞ 具体的には… ■顧客からの依頼受付と打ち合わせ ・顧客の解析目的や要望を確認し、最適な解析方法を検討する ・費用や納期を提示する ■サンプル前処理加工 ・電子顕微鏡で観察できるようにサンプルを特殊加工する ・SEM用には導電性コーティングを、TEM用には集束イオンビーム（FIB）などで電子が透過する厚さまで薄くする ■電子顕微鏡観察とデータ取得 ・前処理後のサンプルをSEMやTEMにセットして観察する ・SEMで表面構造や欠陥を、TEMで内部構造や結晶を捉え、EDSで元素分析をおこなう ■画像解析と報告 ・得られた画像やデータを解析し、顧客の要望に応じ

勤務時間実働8時間 ※平均残業時間「月10時間」（直近実績）

仕事内容・寸法SEMなどの計測設備の立ち上げ・レシピ作成・環境整備にともなうＣＲ作業業務・データ纏め・評価業務・電子顕微鏡を用いた計測解析・SEM装置を使用した計測解析・開発部門にて新規計測技術の立ち上げ・計測環境用のSEMレシピ作成・計測技術立ち上げ後、量産部門へ移管対応 担当製品: 半導体（フラッシュメモリ） 職種: [ 生産技術系 ] 工法開発 現場改善・能率改善 ツール: Excel PowerPoint 必要スキル: 【こんなスキルや経験のある方を歓迎します！】・ＰＣスキル・コミュニケーション取れる方 ＼こんな方にもオススメ／ 生産管理・品質管理・プロセス管理・リスク管理の経験を活

仕事内容東芝ナノアナリシス株式会社 【四日市】SEM・TEM・FIBを用いた半導体デバイス解析（リーダー候補）◆高度な分析技術あり 【仕事内容】 【四日市】SEM・TEM・FIBを用いた半導体デバイス解析（リーダー候補）◆高度な分析技術あり 【具体的な仕事内容】 ～SEMもしくはTEM経験者 歓迎！／年休162日（交代勤務）／キオクシアの新製品開発の分析に携われる／平均有給取得日数19日／学会発表・論文実績あり／大学との共同研究あり国内唯一の3次元アトムプローブ分析など高度な分析技術を保有～ ■業務概要 半導体、液晶、金属、新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提

勤務時間2交替：07:00～17:50/08:15～19:05/19:00～05:50 休憩：75分 残業：20時間 75分

仕事内容【業務内容】 半導体SEM・TEM解析業務の一般的な作業手順は以下の通りです。 1. 顧客からの依頼受付と打ち合わせ 顧客の解析目的や要望を確認し、最適な解析方法を検討します。費用や納期もここで提示します。 2. サンプル前処理加工 電子顕微鏡で観察できるよう、サンプルを特殊加工します。SEM用には導電性コーティングを、TEM用には集束イオンビーム（FIB）などで電子が透過する厚さまで薄くします。この工程は解析品質を左右します。 3. 電子顕微鏡観察とデータ取得 前処理後のサンプルをSEMやTEMにセットして観察します。SEMで表面構造や欠陥を、TEMで内部構造や結晶を捉え、EDSで元素

勤務時間実働8時間 ※平均残業時間「月10時間」（直近実績）

仕事内容【半導体メモリの分析・解析業務】・SEMによる断面解析・TEM試料作製前処理・FIB加工・TEM観察、元素分析、組成分析・測長、データ整理・4勤2休のシフト勤務 担当製品: 半導体製品 職種: [ 化学系 ] 分析・解析 試験・実験・評価 実験補助 関連業務 ツール: Excel Word PowerPoint 必要スキル: 【こんなスキルや経験のある方を歓迎します！】分析・解析業務の知識をお持ちの方。交代制勤務に対応可能な方。【活かせる経験】SEM・TEMを用いた分析経験をお持ちの方は歓迎いたします！ 勤務地: 三重県 四日市市 ※プロジェクト先での勤務となります。 ※最終的な就業

仕事内容[仕事内容] 精密分析技術で半導体開発を支える受託解析企業で、SEM・TEMを用いた解析業務とデータまとめをお任せいたします。 半導体フラッシュメモリの解析業務として、試料作成からSEM・TEMによる分析、Excelでのデータ整理までの工程を担当していただきます。 【業務内容】 ・試料作成 分析対象となる半導体試料を、装置に適した形状・状態に加工します。 ・解析用加工 SEMやTEMでの観察に必要な微細加工を行い、精度の高い分析を可能にします。 ・TEM分析、SEM分析 電子顕微鏡を用いて、半導体内部の構造や異常を高精度で解析します。 ・Excelでのデータまとめ 取得した分析結果を

仕事内容キオクシア株式会社 【四日市】次世代メモリの物理分析技術開発｜TEM・FIB-SEM装置の導入・技術開発◆半導体メーカー 【仕事内容】 【四日市】次世代メモリの物理分析技術開発｜TEM・FIB-SEM装置の導入・技術開発◆半導体メーカー 【具体的な仕事内容】 ◇TEM・FIB-SEMを駆使し、次世代メモリの技術革新を支える◇ ■業務内容： 次世代メモリ開発におけるTEMおよびFIB-SEM技術の開発と装置導入を担当いただきます。 ■業務詳細： 本ポジションでは、新材料・新構造を用いた製品のプロトタイプ試作において、TEM／FIB／SEM技術の開発・導入を担う技術職として、以下のよう

仕事内容【応募資格】 [必須] 【応募資格】 ■大学卒／大学院卒 【必須スキル】※下記どれか当てはまればOK！ ■有機高分子材料に関する知見 ■化学系の知識 ■基礎知識（無機、有機どちらでも可） ■金属材料の基礎知識 【歓迎スキル】 ■電子顕微鏡(FE-SEM/FIB-SEM/FIB-TEM)の実務経験 ■組成分析(FT-IR)の実務経験 ■表面分析関係の知識、技術 ■開発、品質保証経験 【求める人物像】 ■傾聴力がある方 ■人と話すのが苦ではない方 ■臨機応変に柔軟な対応ができる方 ■相手の立場に立って物事を考えられる方 ■お客様の感謝の言葉を励みにでき

仕事内容【応募資格】 [必須] ～業界未経験歓迎／SEMもしくはTEM経験者 歓迎！～ 【必須条件】 （1）下記いずれかのご経験を有する方 ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■透過型電子顕微鏡（TEM） ■集束イオンビーム（FIB） （2）何らかのリーダー経験をお持ちの方 【職種名】 【三重】半導体デバイス解析リーダー（電子顕微鏡による高度分析） 【仕事内容】 【仕事内容】 半導体、液晶、金属、新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの分析サービスを提供している同社で、半導体デバイスの解析でリーダーを担っていただきます。 ■走査型電子顕微鏡（SEM）・透過型電子顕微鏡（

仕事内容【応募資格】 [必須] ・デジタルマーケットプレイスの知見と売上成長推進力 ・日本市場でのEC/マーケットプレイス運用経験（楽天/Yahoo!等） ・デジタルマーケティング全般の知識（SEO/SEM/SNS等） ・データ分析スキル ・部門横断での戦略推進・コミュニケーション力 ・学士号以上（ビジネス/マーケティング等の分野） ・流暢な日本語力とビジネスレベルの英語力 [歓迎] ・Eコマースビジネス経験（2年以上） ・UI/UXの知識 ・Amazonマーケットプレイスでのご経験 【職種名】 Eコマーススペシャリスト《東海エリアからフルリモート×フレックス勤務OK◆グローバルな職場環境》 【仕事内

仕事内容【仕事内容】 半導体SEM・TEM解析業務の一般的な作業手順は以下の通りです。 1. 顧客からの依頼受付と打ち合わせ 顧客の解析目的や要望を確認し、最適な解析方法を検討します。費用や納期もここで提示します。 2. サンプル前処理加工 電子顕微鏡で観察できるよう、サンプルを特殊加工します。SEM用には導電性コーティングを、TEM用には集束イオンビーム（FIB）などで電子が透過する厚さまで薄くします。この工程は解析品質を左右します。 3. 電子顕微鏡観察とデータ取得 前処理後のサンプルをSEMやTEMにセットして観察します。SEMで表面構造や欠陥を、TEMで内部構造や結晶を捉え、EDSで元素分析も

仕事内容【職種】半導体＞研究・開発 【業種】メーカー＞その他 ※会員属性などに応じ、当該求人をビズリーチ上で閲覧された際に内容が異なる場合があります ZEISSの半導体製造装置部門である「SMT（Semiconductor Manufacturing Technology）」のフィールドアプリケーションエンジニアを募集します。SMT部門では、最先端の半導体ウェハやフォトマスクの製造・研究現場に関わる製品を扱っており、本ポジションはその中でも「SFS（Semiconductor FAB Solutions）」チームの一員として、半導体ラボおよび製造施設向けの3DトモグラフィーFIB/SEMソリューシ

仕事内容【職種】半導体＞生産技術 【業種】メーカー＞その他 ※会員属性などに応じ、当該求人をビズリーチ上で閲覧された際に内容が異なる場合があります ZEISSの半導体製造装置部門である「SMT（Semiconductor Manufacturing Technology）」のフィールドサービスエンジニアを募集します。SMT部門では、最先端の半導体ウェハやフォトマスクの製造・研究現場に関わる製品を扱っており、本ポジションはその中でも「SFS（Semiconductor FAB Solutions）」チームの一員として、半導体ラボおよび製造施設向けの3Dトモグラフィー検査システムを主に担当します。ZE

仕事内容【業務内容】 ■仕事内容：受託分析業務全般（受付・前処理・測定・速報・報告書作成） ・具体的には、電子顕微鏡（SEM/TEM）を用いた形態観察や、それに伴う前処理、画像解析、クライアントとの評価結果のディスカッションを通じて、新たな分析手法の提案を行います。 また、将来的には、顧客のR&D部門に入り込み、分析の専門家として開発に携わることも期待されます。 私たちはソリューションプロバイダとしての役割を担い、責任感を持って業務に取り組んでいただきます。 製品の研究・開発段階における分析や故障解析、さらに分析評価法の開発など、機器を用いた分析業務を担当します。 分析対象は、取引先（親会社